-
柯致妮透射电镜试样制备方法图解
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。透射电镜试样制备方法图解透射电镜是一种广泛用于研究材料结构和性质的显微镜,其基本原理是通过样品对电子束的透射,产生二次电子信号...
155 -
柯致妮纳米压痕GPa
纳米压痕GPa:新型二维材料研究进展摘要随着纳米科技的快速发展,各种高性能的二维材料逐渐成为研究的热点。纳米压痕GPa(GraphenePerforatedAnodicGraphene)作为一类具有高...
1085 -
柯致妮离子束溅射沉积
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。离子束溅射沉积(IonBeamSputteredDeposition,IBAD)是一种在单晶或多晶基底上通过离子束沉积(溅射)...
910 -
柯致妮离子源刻蚀基底一般多久
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。离子源刻蚀(IonSour...
727 -
柯致妮离子源刻蚀基底
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。离子源刻蚀(IonSource刻蚀)是一种用于微电子制造过程中的关键技术,用于控制薄膜厚度、组成和结构。在这种技术中,离子源被...
746 -
柯致妮离子诱导技术有哪些
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。离子诱导技术是一种广泛应用...
830